Перейти к содержимому.
АВТОРИЗАЦИЯ
|
РЕГИСТРАЦИЯ
|
ЛОКАЛЬНЫЕ САЙТЫ
|
форум
|
Контактная информация
Разделы
ПРОДУКЦИЯ И УСЛУГИ
ТЕХ. ПОДДЕРЖКА
БАЗА ЗНАНИЙ
ОБУЧЕНИЕ
СОБЫТИЯ
О КОМПАНИИ
БЫСТРЫЕ ССЫЛКИ
Запрос
Помощник
по выбору
Офиисы
продаж
Как купить?
форум
демонстрация
Контактная
информация
ПРОДУКТЫ
ПОДДЕРЖКА
ОНЛАЙН ДЕМОНСТРАЦИИ
Новости
События
Системы измерения постоянного/переменного тока и напряжения
Специальные приборы и системы
Тестирование оптоэлектронных устройств
Температурные контроллеры
Тестирование эффекта Холла
Тестирование автомобильных подушек безопасности
Измерения малых величин
Измерители малых токов (пикоамперметры)
Измерители малых напряжений (нановольтметры)
Высокоомные измерители сопротивления (Электрометры/Омметры)
Измерители низких сопротивлений на постоянном/переменном токе (микроомметры)
Генераторы сигналов
Генераторы последовательностей
Генераторы произвольной формы и импульсные
Источники тока
Широкого применения
Высокопроизводительные
Источники напряжения
Широкого применения
Высоковольтные
Специальные
Цифровые мультиметры
Высокопроизводительные
Специальные
Широкого применения
Мультиметры/коммутаторы
Анализаторы аудио сигналов
источники/измерители тока и напряжения, источники/измерители
Общего назначения/Средней мощности
Измерение малых токов
Измерение больших токов
Измерение высоких напряжений
Высокоскоростные источники питания
Эмуляторы батарей/зарядных устройств
Высоковольтные источники питания
Параметрические системы тестирования полупроводников и ПО
Параметрические анализаторы
4200-SCS Параметрический анализатор полупроводников
Программное обеспечение ACS - базовая версия
Параметрические тестовые системы
Базовая система S530
Система S530 для тестирования слаботочных устройств
Система S530 для тестирования высоковольтных устройств
Автоматизированные интегрированные тестовые системы
Коммутаторы для полупроводиковых тестовых систем
Матричные карты
Матричные карты и базовые блоки для слаботочных измерений
Источники-измерители
Серия 2600
Серия 2400
Программное обеспечение для характеризации
Система ACS
ACS базовая версия
ACS для тестирования полупроводников на уровне кремниевых пластин
Испытание надежности
ACS для тестирования полупроводников на уровне кремниевых пластин
S500 "Источник-измеритель - контакт"
Параметрический анализатор полупроводников 4200-SCS
Коммутаторы
Для полупроводников / с низким уровнем тока утечки
Многофункциональные
С интегрированным мультиметром/коммутатором
РЧ/Микроволновые
Системы сбора данных
Многофункциональные
PCI
USB
С аналоговым выходом
С цифровыми входами/выходами
PCI
USB
Счетчики/Таймеры
Регистратор
Аксессуары
Интерфейс IEEE-488/GPIB
PCI
USB
IEEE Кабели и адаптеры
KPCI/KUSB
Преобразователи/формирователи сигналов серии MB
Твердотельные модули ввода/вывода и объединительные платы
Соединительные кабели
Платы с зажимными контактами
Соединители/Адаптеры/Инструменты
ПО для электрометров
Тестовая оснастка
Пробники
Кабели для синхронизации
Контроллеры
Наборы для монтажа в стойку для систем сбора информации
Адаптеры, Кабели и Стабилизаторы
Стойки, комплекты для монтажа и корпуса
Аксессуары для компьютеров
Монтажные приспособления для внешних пред-усилителей
Carrying Cases
Скан-карты и коммутаторы
Ручки для приборов
Power Splitter
Кабели
Тележка
Профессиональный
сервис
Обучение
Программное обеспечение
Аппаратное обеспечение
Программное обеспечение
Обучение
Аппаратное обеспечение
Помощник по выбору
Поддержка пользователей
Поддержка продуктов
Северная Америка
Южная Америка
Африка
Азия и Южнотихоокеанский регион
Европа
Ближний Восток
Ценральная Америка
Страны Карибского бассейна
Обзор особенностей
Системы измерения постоянного/переменного тока и напряжения
Источники тока/напряжения и измерители
Коммутаторы
Серия 3700 мультиметр/коммутатор
Серия 2700
Параметрические системы тестирования полупроводников и ПО
Истоники-измерители серии 2600А
Система 4200-SCS для тестирования полупроводников
Системы сбора данных
Многофункциональная система сбора данных KUSB-3100
Аксессуары
Модель 2001 - высокопроизводительный мультиметр, 7½ разрядов
Модель 2002 - высокороизводительный мультиметр, 8½ разрядов
Программное обеспечение
ПО Test Script Builder (конструктор тестовых скриптов)
ПО ACS - базовая версия
Keithley Instruments Adds Site for India to Growing List of International Websites
Keithley Publishes CD on High Performance Source Measurement Solutions
KeithleyCare Repair and Calibration Service Plans Cut Costs, Reduce Downtime, and Protect Instrument Investments
Keithley Adds Support for Non-Volatile Memory, Very Low Frequency C-V, and Increased Parallel Testing to Semiconductor Parameter Analyzer
Keithley Expands Series 2400 SourceMeter® Family with Lower-Cost Solution Optimized for Low Voltage Testing
Блог: особенности проведения тестирования и измерений
Обзоры различных подходов и методик тестирования солнечных батарей
Стандарт IEEE 1588: новый подход к созданию контрольно-измерительных систем
LРазличные типы измерений при характеризации полупроводников требуют создания систем с различными возможностями подключения к тестируемому устройству.
2011 NCSLI • NCSL International 50th Anniversary Celebration
National Harbor, MD • August 22-24, 2011
ICSCRM 2011
International Conference on Silicon Carbide and Related Materials
Cleveland, OH • Renaissance Cleveland Hotel
September 12-16, 2011
MRS Materials Research Society FALL
Boston, MA • Nov. 28-Dec. 2, 2011
Измерения на кремниевых пластинах: трудности, возможности и хитрости
Фотогальванические измерения: тестирование электрических свойств современных солнечных батарей
Максимальная эффективность при измерениях малых токов
Методики тестирования мощных электронных компонентов
Методики измерений вольт-амперных характеристик
Ускорение и упрощение процедуры характеризации полупроводников
